Informações Gerais:
O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.
Público Alvo
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.
Coordenadora:
Dalva Carvalho
Palestrantes
J.M. Sasaki - É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.
Vera Lucia Mazzocchi - É pesquisadora do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP), em São Paulo, desde 1985. Trabalha desde 1990 com refinamentos de estruturas cristalinas e magnéticas, utilizando o método de Rietveld, com dados de difração de nêutrons, raios-X convencional e radiação síncrotron. Atualmente é responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN.
Local
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Computação (Bloco 927) do
Departamento de Física e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD - Panalytical)
Laboratório de Raios X - LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013
DATA
24-28 de Julho de 2017
Carga horária
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas
Pré-Inscrição (término 28/5/2017)
http://goo.gl/forms/UrIa1Q29U7f4lI4z1
Inscrição (a partir do dia 29/5/2017)
http://www.astef.ufc.br
NÚMERO DE VAGAS
Serão oferecidas somente 20 vagas.
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Taxa de inscrição
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Até 30/06/2017
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Após 30/06/2017
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Professores universitários e técnicos das indústrias
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R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)
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R$ 2.000,00 (dois mil reais)
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Alunos de pós-graduação e de iniciação científica
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R$ 200,00 (duzentos reais)
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R$ 250,00 (duzentos cinquenta reais)
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É obrigatório o preenchimento do formulário de seleção: http://tinyurl.com/q4oq3mg .
- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal.
Programação do Curso:
- 24/7/2017 - Segunda-Feira
8:00 - Abertura
8:30 - 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.
14:00 - 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino.
8:00 - 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica EXPGUI para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.
14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).
18:30 – Confraternização
Material Didático
Os participantes receberão todos os programas
Maiores Informações
http://www.raiosx.ufc.br/site/
http://www.astef.ufc.br
Tel: (85) 3458-7068/99177-3788 (Alessandra)
Nota: O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).
Pré-Inscrição (término 28/5/2017)
http://goo.gl/forms/UrIa1Q29U7f4lI4z1
Apoio:
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