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>> ASTEF - Conhecimento, Experiência e Competência

Método Rietveld de Refinamento de Estrutura - VIII

 Informações  Gerais:

O método de refinamento Rietveld vem se destacando como um método indispensável na caracterização de materiais policristalinos. Suas potencialidades serão discutidas em profundidade durante os 5 dias de curso. Além de aulas teóricas, será enfatizado o uso dos equipamentos pelos participantes e a utilização da interface gráfica para o programa de refinamento GSAS. O curso será destinado a profissionais que atuam nas indústrias, alunos de pós-graduação e pesquisadores que necessitam, nas suas respectivas áreas, de análises de estruturas e/ou quantitativas de fases.


Público Alvo
Estudantes de Mestrado, Doutorado e profissionais que atuam nas indústrias com interesses em análises estruturais e quantitativas de fases.


Coordenadora:
Dalva Carvalho


Palestrantes
J.M. Sasaki - É professor associado do Departamento de Física da Universidade Federal do Ceará (Fortaleza/CE) desde 1995. Doutorado pelo Instituto de Física "Gleb Wataghin" no ano de 1993 e desde 1996 vem utilizando o Método Rietveld na caracterização de materiais policristalinos. Atualmente trabalha na caracterização de cristais por difração de raios x usando radiação síncrotron e na síntese de nanopartículas. Coordenador do Laboratório Multi-Usuários em Nanotecnologia/CNPq.


Vera Lucia Mazzocchi
- É pesquisadora do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN-CNEN/SP), em São Paulo, desde 1985. Trabalha desde 1990 com refinamentos de estruturas cristalinas e magnéticas, utilizando o método de Rietveld, com dados de difração de nêutrons, raios-X convencional e radiação síncrotron. Atualmente é responsável pelo Laboratório de Difratometria de Nêutrons do IPEN.


Local
As aulas teóricas e tutoriais serão ministradas na sala de Computação (Bloco 927) do
Departamento de Física e aulas práticas no Laboratório de Raios X (X-Pert MPD - Panalytical)

Laboratório de Raios X - LRX
Departamento de Física
Campus do Pici
CEP 60455-970, Fortaleza – CE
Fone: (85)3366-9917/3366-9013

 


DATA
24-28 de Julho de 2017


Carga horária
8 horas de aulas teóricas e 32 horas de tutoriais
Total: 40 horas


Pré-Inscrição (término 28/5/2017)
http://goo.gl/forms/UrIa1Q29U7f4lI4z1


Inscrição (a partir do dia 29/5/2017)
http://www.astef.ufc.br


NÚMERO DE VAGAS
Serão oferecidas somente 20 vagas. 

Taxa de inscrição

Até 30/06/2017

Após 30/06/2017

Professores universitários e técnicos das indústrias

R$ 1.500,00 (mil e quinhentos reais)

R$ 2.000,00 (dois mil reais)

Alunos de pós-graduação e de iniciação científica

R$ 200,00 (duzentos reais)

R$ 250,00 (duzentos cinquenta reais)

 

 

 

É obrigatório o preenchimento do formulário de seleção: http://tinyurl.com/q4oq3mg .

- É OBRIGATÓRIO trazer o notebook pessoal. 



Programação do Curso:

  • 24/7/2017 - Segunda-Feira

8:00 - Abertura

8:30 - 12:00
Aula Teórica: Histórico, produção de radiação, as três equações de Laue, equação de Bragg da difração, rede recíproca, esfera de reflexão, espalhamento por um elétron, fator de espalhamento atômico.

14:00 - 18:00
Aula Teórica: Dispersão anômala, difração de raios x por cristais ideais (teoria cinemática), fator de estrutura, largura dos picos de difração, efeito da temperatura, potência refletida integrada, difração por um agregado policristalino. 

  • 25/7/2017 – Terça-Feira

8:00 - 12:00
Apresentação do difratômetro de raios x instalado no Laboratório de Raios X/Panalytical. Identificação de fases cristalinas, apresentação da interface gráfica EXPGUI para o programa GSAS e utilização das Bases de Dados de Estruturas Cristalinas/CAPES.

14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS). 

  • 26/7/2017 – Quarta-Feira

8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS). 

  • 27/7/2017 – Quinta-Feira

8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS). 

  • 28/7/2017 – Sexta-Feira

8:00 - 12:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

14:00 - 18:00
Aula experimental: medidas de difração de raios x pelos participantes e aplicação do método Rietveld de refinamento de estrutura (GSAS).

18:30 – Confraternização

 


Material Didático
Os participantes receberão todos os programas

 


Maiores Informações
http://www.raiosx.ufc.br/site/

http://www.astef.ufc.br

Tel: (85) 3458-7068/99177-3788 (Alessandra)

Nota:
O curso será cancelado e devolvida a taxa de inscrição no caso onde o número mínimo de participantes não atingir a 15 (quinze).



Pré-Inscrição
(término 28/5/2017)

http://goo.gl/forms/UrIa1Q29U7f4lI4z1

 

Apoio:

Dot Lib

 

 

 

 

 

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